Новые возможности системы Вега по анализу состояния сельскохозяйственных посевов и земель (мастер-класс)

Мастер-класс посвящен демонстрации новых возможностей анализа состояния сельскохозяйственных посевов и земель в системе Вега-Science. Во время него будет рассказано об основных типах и наборах данных, а также инструментах, которые используются для анализа состояния посевов и земель.
На различных примерах будут продемонстрированы возможности базовых инструментов работы с данными, которые характерны для различных систем семейства Вега-Созвездие, а также инструменты и данные, необходимые для анализа состояния сельскохозяйственных посевов и земель. В том числе:
- поиск и выбор необходимой информации для анализа;
- заведение различных объектов и получение по ним информации;
- задание дополнительных характеристик объектов;
- анализ спектральных и временных рядов;
- анализ состояния полей и трендов развития;
- построение и задание норм развития для любых полей;
- использование дополнительных данных для оценки состояния;
- и др.
Будет рассказано и продемонстрированы новые возможности построения эталонных временных рядом (норм) для полей и их применение для оценки состояния полей и анализа динамики развития.
Отдельно будет рассказано о возможностях построения новых локальных продуктов на основе существующей информации и дополнительной обработки выбранных данных прямо в веб интерфейсе и приведены примеры таких продуктов.
Также будут представлены и продемонстрированы возможности организации online взаимодействия между системой Вега-Science и различными информационными системами с использованием программных интерфейсов. Будут представлены примеры продуктов, которые могут использоваться внешними системами для анализа состояния сельскохозяйственных посевов и земель на локальном и региональном уровне.

Сервис Вега-Science поддерживается в рамках работ по теме «Мониторинг» (РАН), госрегистрация № 01.20.0.2.00164, работы по созданию инструментов построения локальных продуктов выполняются при при поддержке гранта РФФИ 13-07-12116 офи_м.