Аппаратно-программный комплекс для определения параметров микрорельефа природных покровов.

Подавляющее большинство задач дистанционного зондирования сводятся к взаимодействию волнового поля с исследуемым природным объектом. При теоретическом описании такого взаимодействия существенную роль играют характеристики поверхности, отграничивающей изучаемый природный покров от воздушной среды. В особую группу таких характеристик обычно выделяют параметры, описывающие степень неровности (шероховатости) подстилающей поверхности.
В данной работе описан аппаратно-программный комплекс, позволяющий с минимальными затратами определить пространственное распределение и статистические характеристики параметров микрорельефа подстилающей поверхности. Под микрорельефом в данном случае понимаются неровности размером от единиц миллиметров до единиц дециметров. Величина исследуемого участка поверхности определяется размерами лабораторного стенда и ограничена первым десятком квадратных метров.
Определению поддаются горизонтальные и вертикальные размеры неоднородностей микрорельефа: среднее значение, дисперсия, распределение по размерам – его вид и количество мод. Также возможно построение ЦМР в исследуемом масштабе. Экспресс определение размеров производится в рамках модели двухмерного случайного процесса, корреляционная функция которого вычисляется с использованием теоремы Винера-Хинчина. Для оценки распределения по размерам используется алгоритм размыкания контуров, эта операция требует затрат машинного времени в размере первых десятков минут. Построение цифровой модели микрорельефа происходит с использованием стереофотографий. Данная операция самая длительная и может занимать до 10 часов машинного времени.
Работа выполнена при поддержке РФФИ, грант № 12-05-98082.