Двадцать вторая международная конференция "СОВРЕМЕННЫЕ ПРОБЛЕМЫ ДИСТАНЦИОННОГО ЗОНДИРОВАНИЯ ЗЕМЛИ ИЗ КОСМОСА"
XXII.A.81
Стандарты оценивания параметров объектов в изображениях с ИВС
Терентьев Е.Н. (1), Гагарин Р.Д. (1), Махнюк М.В. (1), Балабан Е.Д. (1), Романов Д.Р. (1), Шацков И.А. (1)
(1) МГУ имени М.В. Ломоносова, физический факультет, Moscow, Россия
Стандарты по высокоточному оцениванию параметров объектов нужны дистанционных исследованиях при анализе космических изображений и в литографическом оборудовании для производства памяти и процессоров. Для этого в Математическом Обеспечении Измерительно Вычислительных Систем (МО ИВС) предлагаем использовать высокоточные методы Градиентной Морфологии (ГМ).
Пока мы можем утверждать, что методами (ГМ) такие параметры как положение и размеры, например, Интегрального Транзистора мы можем оценить в 5-10 раз более точно, чем методами обычной морфологии. В настоящее время в конструировании оптических ИВС современных литографов имеет место простая тенденция: “Чем меньше длины волны излучения, тем более мелкие объекты мы видим, измеряем”. В подходах этой тенденции не учитывается тот факт, что излучение имеет волновую природу и надо математически компенсировать (термины:) Диаграмму Направленности (ДН), Функцию Рассеяния Точки (ФРТ) или Аппаратную Функцию (АФ) ИВС. Замети, что литографы с Рентгеновским ИВС уже существуют за рубежом. В России работы по рентгеновскому литографу продолжаются в Нижнем Новгороде. Рентгеновские ИВС очень дорогие и сейчас тенденция направлена даже на использование синхротронного излучения в литографии. На физическом факультете МГУ создан метод по компенсации АФ искажений ИВС, который мы назвали Математический Микроскоп (ММ). Метод ММ апробирован на данных в Астрономии и на данных с Электронных и Атомно-Силовых микроскопов. Величины получаемых сверх разрешений SR в зависимости от точности исходных данных для ММ находятся в пределах от 30-50 до 200-2000.
Выводы: метод ММ пока не применялся для получения SR изображений в дистанционных исследованиях с ИВС в литографии. Будущие за новыми ИВС в 0.2-1нм Литографии с методами ГМ и ММ.
Ключевые слова: Фурье гармоники, ортонормированный базис, конечномерная теорема отсчетов, дифференцирование и интегрирование массивов отсчетов с точностью мантиссы, градиентная морфология, шаблон векторов единичной длины
Литература:
- Терентьев Е.Н. https://orcid.org/0000-0003-1024-2575
- Terentiev, E. N., Shugaev, F. V., Shtemenko, L. S., Dokukina, O.I. and Ignateva, O. A., “Modeling of laser beam propagation through the whirlwind”, Proc. SPIE 6215, 86-97(2006).
- Shugaev, F. V., Terentiev, E. N., Shtemenko, L. S., Nikolaeva, O. A., Pavlova, T. A. and Dokukina, O. I., “On the problem of beam focusing in the turbulent atmosphere”, Proc. SPIE 6747, (2007).
- E. N. Terentiev,I. N. Prikhodko and I. I. Farshakova // Problems of accurate localization objects in imagers, AIP Conference Proceedings 2171, 110009(2019); https://doi.org/10.1063/1.5133243
- Terentiev, E.N., Prikhodko, I.N., Farshakova, I.I. Applications of finite dimensional sampling theories, AIP Conference Proceedings 2195, 020019 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5140119
Презентация доклада
Методы и алгоритмы обработки спутниковых данных